介损测量
（介质损耗因数测量）
介损测量(tan δ 测量) 是一个非破坏性和集成的过程，并对整个电缆线路进行状况评估。使用介质的损耗因数 tan δ 作为电缆有功功率和无功功率的测量比例。该测量提供了有关电缆绝缘状态及其老化的明确信息。
tan-δ 诊断的流程
tan δ 的测量在多个电压等级上进行，电压等级可以在我们的仪器中设置。对于老化的电缆，损耗因数会随着测量电压的增加而出现特性增加。所以实现对电缆的分类可为维护措施计划提供有价值的参考。
通过介质损耗因数测量，您会发现
- 在 XLPE 电缆绝缘层中经由水损坏的部位（水树），之后将导致电树并成为电缆故障
- 油浸纸绝缘电缆绝缘层中的缺陷部位因干燥而导致油浸纸绝缘电缆对潮湿的绝缘不足
- 配件中的潮湿（接头/终端套筒）
- 可能的局部放电
- 电缆线路中可能的老化效应
使用 BAUR 软件 4 的介质损耗因数测量
BAUR 软件 4 中介质损耗因数测量的描述
在报告中描述介质损耗因数测量
序列发生器： 一个序列为每种应用情况绑定了正确的测量方法和设置选择。
程序： 预定义的测量流程。统一和标准化的测量与测试可实现所有系统之间的可比性。
评估标准： 根据电缆类型和绝缘材料，将自动计算并显示合适的状态评估。
通用方法： 无论电缆类型和电压等级如何，都可以全局定义标准化的流程和测量方法。它们可以通用并确保统一的方法。
数据传输： 通过数据传输，可以轻松快速地将默认设置和测量传输到其他测量系统。*
*) 取决于软件选项的可用性
无附加花费地同时进行介质损耗因数和局部放电测量：通过 BAUR 软件 4 实现！
用于电缆耐压检查和诊断/介质损耗因数测量的 BAUR 产品
BAUR 软件 4
用于电缆故障定位、
电缆耐压检查和诊断的软件包
frida TD
适用于最高 36kVpeak 中压电缆的 VLF 超低频测试和诊断设备 (TD)
PHG 80 TD
适用于最高 80kVpeak 中压电缆的 VLF 超低频测试和诊断设备 (TD)
PHG 80 TD PD
适用于最高 80kVpeak 中压电缆的 VLF 超低频测试和诊断设备（TD 和 PD）
viola TD
VLF 测试诊断仪
